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Microanalyse d'échantillons de silicium par rétrodiffusion d'ions He⁺ d'énergie 2MeV et émission x induite par des protons et des particules alpha

Benguerba, Messaoud, Auteur ; Amokrane, Arezki, Auteur | Alger : Université des Sciences et de la Technologie Houari Boumedienne | 1980

Nous avons essayé de montrer dans le présent travail la complémentarité entre ces deux méthodes que nous avons appliquées à l'analyse d'échantillon de silicium, ces échantillons étaient fournis sous forme de poudre par un laboratoire de l'Univer[...]

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